Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochr

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni.

Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce.

Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych – Zarysy kształtu, Falistość, Mikro- i nanochr

Odkryj wyjątkowe kompendium poświęcone metrologii i analizie powierzchni, które łączy kilkudziesięcioletnie doświadczenie autora z praktycznymi zastosowaniami w przemyśle. Publikacja autorstwa profesora Stanisława Adamczaka, uznanego specjalisty z Politechniki Świętokrzyskiej, stanowi nieocenione źródło wiedzy dla inżynierów i techników.

Dla kogo jest ta książka?

• Metrologowie
• Technolodzy
• Konstruktorzy urządzeń i aparatury pomiarowej
• Pracownicy służb kontrolno-pomiarowych
• Specjaliści w dziedzinie utrzymania ruchu
• Pracownicy przemysłu maszynowego i branż pokrewnych
• Studenci I i II stopnia kierunków technicznych

Co zyskasz dzięki tej publikacji?

• Praktyczną wiedzę na temat metrologii geometrycznej powierzchni
• Ilustracje i przykłady zastosowań rozwiązań w przemyśle
• Umiejętność analizy falistości oraz mikro- i nanochr
• Wiedzę przydatną w pracy inżynierskiej i projektowej

Kluczowe tematy i obszary

• Metrologia geometryczna
• Analiza powierzchni technologicznych
• Falistość
• Mikro- i nanochr
• Praktyczne zastosowania w przemyśle

O Autorze

Profesor Stanisław Adamczak to uznany ekspert w dziedzinie metrologii, z wieloletnim doświadczeniem w przemyśle oraz badaniach naukowych. Były rektor Politechniki Świętokrzyskiej, autor licznych publikacji naukowych, który dzieli się swoją wiedzą i doświadczeniem w tej książce.

O Wydawcy

Wydawnictwo Naukowe PWN to renomowany wydawca specjalizujący się w publikacjach naukowych i edukacyjnych. Dzięki wieloletniej tradycji i wysokim standardom edytorskim, PWN dostarcza czytelnikom wartościowe materiały, które wspierają rozwój wiedzy i umiejętności w różnych dziedzinach.

Opis wygenerowany automatycznie na podstawie analizy cech publikacji przez system AI. Nasz algorytm dokonał samodzielnej syntezy korzyści płynących z tej książki, aby dostarczyć Ci rzetelny wgląd w jej zawartość bez udziału człowieka. Szybka informacja prosto z metadanych produktu.